SRM1976c  X射線粉末標(biāo)準(zhǔn)品

英文名稱：Instrument Response Standard for X-Ray Powder Diffraction

品牌：美國NIST標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)

SRM1976c  X射線粉末標(biāo)準(zhǔn)品由燒結(jié)氧化鋁圓盤組成，用于校準(zhǔn) X 射線粉末衍射設(shè)備的線位置和強度作為 2θ 角的函數(shù)。 SRM 的固體形式消除了由樣品加載過程引入的強度測量中的任何可變性。 SRM 1976c 的一個單元由一個直徑約為 25.6 毫米、厚度為 2.2 毫米的燒結(jié)氧化鋁圓盤組成。 

 材料說明：

 SRM1976c  X射線粉末標(biāo)準(zhǔn)品用于生產(chǎn)此 SRM 的制造工藝是為生產(chǎn)電子元件基板而開發(fā)的。用作這些基材前體的氧化鋁粉末具有高相純度（剛玉結(jié)構(gòu)），具有片狀顆粒形態(tài)。血小板的直徑通常為 5 μm 至 10 μm，厚度為 2 μm 至 3 μm。圓盤的壓實過程導(dǎo)致軸對稱紋理基面趨向于與圓盤表面平行。紋理的這種軸對稱特性允許樣品以任何關(guān)于表面法線的方向安裝。使用小百分比的鈣長石玻璃相對壓塊進行液相燒結(jié)。未檢測到結(jié)晶雜質(zhì)。液相燒結(jié)中涉及的玻璃相有效地防止了顆粒間的接觸，并在從燒結(jié)溫度冷卻碎片的過程中松弛。這導(dǎo)致微應(yīng)變的最小發(fā)展及其相關(guān)的線展寬；盡管可以檢測到一些微應(yīng)變，因為具有 tanθ 依賴性的高斯展寬。

鑒于此，以及基本不存在微晶尺寸展寬，SRM1976c  X射線粉末標(biāo)準(zhǔn)品可用于獲得儀器輪廓函數(shù) (IPF) 的近似值。但是，不推薦使用 SRM 1976c 進行定量微觀結(jié)構(gòu)分析。包含該 SRM 原料的圓盤是在單一的專用生產(chǎn)運行中制造的，以確保微觀結(jié)構(gòu)在晶粒尺寸、形狀、微應(yīng)變和紋理方面的一致性。

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